Prikupljanje sredstava 15. septembra 2024 – 1. oktobra 2024
O prikupljanju novca
pretraga knjiga
knjige
Prikupljanje sredstava:
17.8% dosegnuto
Prijaviti se
Prijaviti se
prijavljenim korisnicima su dostupni:
lične preporuke
Telegram bot
istorija preuzimanja
poslati na Email ili Kindle
upravljanje zbirkama
sačuvanje u izabrano
Lično
Upite za knjige
Proučavanje
Z-Recommend
Spiskovi knjiga
Najpopularnije
Kategorije
Učešće
Donirati
Otpremanja
Litera Library
Donirati papirne knjige
Dodati papirne knjige
Search paper books
Otvoriti LITERA Point
Pretraga ključnih reči
Main
Pretraga ključnih reči
search
1
Nouvelles approches d’utilisation de la spectroscopie de photoélectrons à rayons X (XPS) pour le développement et le contrôle des technologies FDSOI avancées
Laurent Fauquier
couche
germanium
figure
silicium
sio2
parxps
profil
couches
d’épaisseur
technique
composition
profondeur
pourcentage
mesures
hfon
industriel
l’épaisseur
pic
l’échantillon
hfo2
substrat
angles
spectre
atomique
l’xps
présente
d’azote
meis
profils
paramètre
pics
déterminer
échantillons
l’énergie
surface
spectres
l’empilement
grille
présentant
liaison
métrologie
simulation
énergie
obtenus
chimique
relatif
ions
gradient
angle
faible
Jezik:
french
Fajl:
PDF, 7.01 MB
Vaši tagovi:
0
/
0
french
1
Idite na
ovaj link
ili potražite bota „@BotFather“ u Telegramu
2
Pošaljite komandu /newbot
3
Navedite ime za svog bota
4
Navedite korisničko ime za bota
5
Kopirajte poslednju poruku od BotFather i ubacite je ovde
×
×